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此份質(zhì)量檢查數(shù)據(jù)為半導(dǎo)體的測(cè)試數(shù)據(jù)，如下圖所示：

我們選擇其中的部分測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行工序能力cpk的分析，規(guī)格值我們?cè)O(shè)置為：標(biāo)準(zhǔn)值為42，規(guī)格上限為：55，規(guī)格下限為：28，通過(guò)計(jì)算，我們得到如下的CPK分析圖形。

通過(guò)分析結(jié)果，我們可以發(fā)現(xiàn)：短期工序能力為1.30，長(zhǎng)期工序能力為：1.12，Cpm值為1.36.

如果以標(biāo)準(zhǔn)要求為1.33來(lái)評(píng)估，則長(zhǎng)期工序能力數(shù)據(jù)還有改善空間，目前為1.12，從短期工序能力為1.30可以發(fā)現(xiàn)，此工序有改善的潛力，通過(guò)

調(diào)整中心值等措施，可以接近達(dá)成工序能力的調(diào)整目標(biāo)。

以下我們從控制圖的角度來(lái)分析此項(xiàng)目的穩(wěn)定性：從控制圖上看，無(wú)論是單值圖，還是極差圖，都存在比較多的失控點(diǎn)，所以我們認(rèn)為工序也是不是

處于非常穩(wěn)定的狀態(tài)，有必要對(duì)其中的失控點(diǎn)進(jìn)行分析，查明原因，采取改善措施。