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對(duì)控制限的解釋如下：如果過程的零件的變異性和過程的均值保持在現(xiàn)有

水平，單個(gè)的子組極差（R）和均值（ X ）回單獨(dú)的隨機(jī)變化，但它們回很少超出控制限，且數(shù)據(jù)中不會(huì)出現(xiàn)與隨機(jī)變化產(chǎn)生的圖形有明顯不同的圖形或趨勢(shì)。分析控制圖的目的在于識(shí)別過程變化性的任何證據(jù)或過程均值沒有處于恒定的水平的證據(jù)，進(jìn)而采取適當(dāng)?shù)拇胧?

A．分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)

控制限之內(nèi)的圖形或趨勢(shì)——當(dāng)出現(xiàn)非隨機(jī)的圖形或趨勢(shì)時(shí)，盡管所有的

極差都在控制限之內(nèi)，也表明出現(xiàn)這種圖形或趨勢(shì)的時(shí)期內(nèi)過程失控或過程分布

寬度發(fā)生變化。這種情況會(huì)給出首次警告：應(yīng)糾正不利條件。

A.1 超出控制限的點(diǎn)——出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任一控制限是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)

的主要證據(jù)。只存在普通原因引起的變差的情況下超出控制限的點(diǎn)的機(jī)會(huì)很小，

我們便假使超出的點(diǎn)是由于特殊原因造成的。因此，對(duì)超出控制限的任何點(diǎn)都應(yīng)

立即進(jìn)行分析，找出存在特殊原因的信號(hào)，對(duì)任何超出控制限的點(diǎn)作標(biāo)記，以便

根據(jù)特殊原因?qū)嶋H開始的時(shí)間進(jìn)行調(diào)查，采取糾正措施。

超出極差上控制限的點(diǎn)通常說明存在下列情況中的一種或幾種：

• 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò)；

•  零件間的變化性或分布的寬度已經(jīng)增大（變壞），這種增大可以發(fā)生在某

個(gè)時(shí)間點(diǎn)上，也可能是整個(gè)趨勢(shì)的一部分；

•  測(cè)量系統(tǒng)變化（不同的檢驗(yàn)員或量具）；

•  測(cè)量系統(tǒng)沒有適當(dāng)?shù)姆直媪Α?

有一點(diǎn)位于控制限之下（對(duì)于樣本容量大于等于 7 的情況），說明存在下列情

況的一種或幾種：

• z控制限或描點(diǎn)錯(cuò)誤；

•  分布的寬度變小（變好）；

•  測(cè)量系統(tǒng)已改變。

A.2 鏈——有下列現(xiàn)象之一表明過程已改變或出現(xiàn)這種趨勢(shì)：

• 連續(xù) 7 點(diǎn)位于平均值的一側(cè)；

• 連續(xù) 7 點(diǎn)上升（后點(diǎn)等于大于前點(diǎn)）或下降；

高于平均極差的鏈或上升的鏈說明存在下列情況之一或全部：

• 輸出值的分布寬度增加（變壞），其原因可能是無規(guī)律的（設(shè)備工作不正常或

螺栓松動(dòng)等）或過程中的某個(gè)要素變化（如使用新的很不一致的原材料）等；

•  測(cè)量系統(tǒng)改變（如新的檢驗(yàn)員或量具）。

低于平均極差的鏈或下降的鏈說明存在下列情況之一或全部：

• 輸出值的分布寬度減小（變好）；

•  測(cè)量系統(tǒng)改變。

A.3 明顯的非隨機(jī)圖形——隨機(jī)的數(shù)據(jù)（普通原因）有時(shí)也可能表現(xiàn)出非隨機(jī)（特

殊原因）的假象。非隨機(jī)圖形的例子：明顯的趨勢(shì)，周期性，數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整

個(gè)控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系（如第一個(gè)讀數(shù)總是最大值）等。

各點(diǎn)與 R 的距離：一般地，大約 2/3 的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的中間 1/3 的區(qū)域內(nèi)，

大約 1/3 的點(diǎn)落在其外的 2/3 的區(qū)域。

如果顯著多于 2/3 以上的描點(diǎn)落在離 R 很近之處（對(duì)于 25 個(gè)子組，如果超過

90%的點(diǎn)落在控制限 1/3 的區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況一種或更多種進(jìn)行調(diào)查：

• 控制限或描點(diǎn)已計(jì)算錯(cuò)或描錯(cuò)；

• 過程或取樣方法分層；

• 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（極差與均值相差甚遠(yuǎn)的幾個(gè)子組被更改或剔除）。

如果顯著少于 2/3 以下的描點(diǎn)落在離 R 很近的區(qū)域（對(duì)于 25 個(gè)子組，如果有

40%或以下的點(diǎn)落在中間 1/3 的區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況一種或兩種進(jìn)行調(diào)查：

•  控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)或描錯(cuò)；

• 過程或取樣方法分層（過程或抽樣方法造成連續(xù)的子組中包含從兩個(gè)或多個(gè)不同過程流的測(cè)量值）；如輸入材料批次混淆

B.識(shí)別并標(biāo)注特殊原因（極差圖）

對(duì)于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每個(gè)特殊原因進(jìn)行標(biāo)注，作一個(gè)過程操作分析，從而確定該

原因并改進(jìn)對(duì)過程的理解。應(yīng)意識(shí)到有些特殊原因可以通過減少極差的變差而對(duì)

過程改進(jìn)起到積極作用，須對(duì)這樣的特殊原因進(jìn)行評(píng)定，以便在過程的適當(dāng)?shù)胤?

使之固定下來。為了將生產(chǎn)的不合格輸出減到最小以及獲得診斷用的新證據(jù)，及

時(shí)分析問題是很重要的。控制圖本身就是問題分析的有用的工具，來自控制圖的

統(tǒng)計(jì)輸出是解決問題合適的開始點(diǎn)。可以配合其它方法，如排列圖、因果圖等。

C．重心計(jì)算控制限（極差圖）

在進(jìn)行初次過程研究或重心評(píng)定過程能力時(shí)，失控的原因已被識(shí)別和消除或

制度化，然后應(yīng)重心計(jì)算控制限，以排除失控時(shí)期的影響。重心計(jì)算新的平均極

差（ R ）和控制限后應(yīng)確保所有的極差點(diǎn)表現(xiàn)為受控，如有必要重復(fù)識(shí)別/糾正/

重心計(jì)算的過程。

由于出現(xiàn)特殊原因而從 R 圖中去掉的子組，也應(yīng)從 X 圖中去掉。修改后的 R 和

X 可用于重心計(jì)算均值的控制限（ X ± A2R ）。

D．分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)

當(dāng)極差受統(tǒng)計(jì)控制時(shí)，則認(rèn)為過程的分布寬度——子組內(nèi)的變差是穩(wěn)定的。

然后應(yīng)對(duì)均值進(jìn)行分析看看在此期間過程的位置是否改變。

D.1 超出控制限的點(diǎn)——出現(xiàn)一點(diǎn)或多點(diǎn)超出任一控制限是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的

主要證據(jù)。

一點(diǎn)超出均值控制限通常說明存在下列情況中的一種或幾種：

? 控制限或描點(diǎn)錯(cuò)誤；

? 過程已改變，或是在當(dāng)時(shí)的那一點(diǎn)（一件獨(dú)立事件）或是一種趨勢(shì)的一部分；

? 測(cè)量系統(tǒng)發(fā)生變化（不同檢驗(yàn)員、量具）。

D.2 鏈——有下列現(xiàn)象之一表明過程已改變或出現(xiàn)這種趨勢(shì)：

• 連續(xù) 7 點(diǎn)位于平均值的一側(cè)；

• 連續(xù) 7 點(diǎn)上升（后點(diǎn)等于大于前點(diǎn)）或下降；

與過程均值有關(guān)的鏈通常說明存在下列情況之一或全部：

• 過程均值已改變；

• 測(cè)量系統(tǒng)改變。

D.3 明顯的非隨機(jī)圖形——非隨機(jī)圖形的例子：明顯的趨勢(shì)，周期性，在控制限內(nèi)

點(diǎn)的異常分布寬度，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間的相關(guān)性等。

各點(diǎn)與 X 的距離：一般地，大約 2/3 的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的中間 1/3 的區(qū)域

內(nèi)，大約 1/3 的點(diǎn)落在其外的 2/3 的區(qū)域；大約 1/20 的點(diǎn)應(yīng)落在控制限較近之處；

大約 1/150 的點(diǎn)落在控制限之外，但認(rèn)為是受控的穩(wěn)定系統(tǒng)的一部分——就是說，

約 99.73%的點(diǎn)位于控制限內(nèi)。

如果顯著多于 2/3 以上的描點(diǎn)落在離 X 很近之處（對(duì)于 25 個(gè)子組，如果超過

90%的點(diǎn)落在控制限 1/3 的區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況一種或更多種進(jìn)行調(diào)查：

• 控制限或描點(diǎn)已計(jì)算錯(cuò)或描錯(cuò)；

• 過程或取樣方法分層；每個(gè)子組包含從兩個(gè)或多個(gè)具有不同均值的過程流的測(cè)

量值；

• 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯。

如果顯著少于 2/3 以下的描點(diǎn)落在離 X 很近的區(qū)域（對(duì)于 25 個(gè)子組，如果有

40%或以下的點(diǎn)落在中間 1/3 的區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況一種或兩種進(jìn)行調(diào)查：

•  控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)或描錯(cuò)；

• 過程或抽樣方法造成連續(xù)的子組中包含從兩個(gè)或多個(gè)不同過程流的測(cè)量值。

E．識(shí)別和標(biāo)注特殊原因（均值圖）

對(duì)于均值數(shù)據(jù)中每一個(gè)顯示處于失控狀態(tài)的條件進(jìn)行一次過程操作分析，以

確定特殊原因產(chǎn)生的理由，并糾正該狀態(tài)防止它再出現(xiàn)。具體參見極差圖中的解

釋。

F．重心計(jì)算控制限（均值圖）

請(qǐng)參見極差圖中的說明。

G．為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限

當(dāng)首批數(shù)據(jù)都在實(shí)驗(yàn)控制限之內(nèi)，延長控制限使之覆蓋將來的一段時(shí)期。如

果過程中心偏離目標(biāo)值，還希望調(diào)整過程使之對(duì)準(zhǔn)目標(biāo)值。這些控制限可用來繼

續(xù)對(duì)過程進(jìn)行監(jiān)控。

子組容量的變化將影響平均極差以及極差和均值圖的控制限。如：減小樣本

容量但增加抽樣頻率，這樣可以在不增加每天抽樣零件總數(shù)的情況下，更快的檢

測(cè)到大的過程變化。為了調(diào)整新的樣本容量對(duì)應(yīng)的中心線和控制限，應(yīng)采取如下

措施：

G.1 估計(jì)過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差（σ? ）用現(xiàn)有的子組容量計(jì)算：

 H．有關(guān)“控制”的最后概念——用于進(jìn)一步考慮

“在一個(gè)生產(chǎn)過程中永遠(yuǎn)無法達(dá)到一種完美的控制狀態(tài)。過程控制圖的目的

不是完美的而是合理的、經(jīng)濟(jì)的控制狀態(tài)。因此，在實(shí)踐中，一個(gè)受控的過程并

不是圖上無任何失控之處的過程。如果一張控制圖上從來不出現(xiàn)失控點(diǎn)，我們將

嚴(yán)肅的查問該操作是否應(yīng)畫圖。對(duì)于車間的目的來說，一個(gè)受控的過程即是僅有

很少百分比的點(diǎn)失控并且對(duì)失控點(diǎn)采取過適當(dāng)?shù)拇胧！?/span>